產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測(cè)試體微缺陷測(cè)試LST體微缺陷測(cè)試設(shè)備
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
LST是檢測(cè)半導(dǎo)體材料的體微缺陷有力工具，通過(guò)CCD相機(jī)，對(duì)入射光在樣品邊沿的散射進(jìn)行掃描，獲得體微缺陷分布信息。
產(chǎn)品分類(lèi)
相關(guān)文章
物鏡自動(dòng)調(diào)節(jié)
納米級(jí)移動(dòng)
對(duì)缺陷濃度和尺寸更加靈敏
測(cè)試尺寸:20nm到15nm
缺陷濃度:1e5-2.5e10cm–3
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄?jiǎng)?chuàng)研智造C7區(qū)五樓
Copyright © 2025 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號(hào)：滬ICP備19020138號(hào)-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
上一個(gè)：
返回列表