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光譜系統(tǒng)
顯微缺陷膜厚
OPTM 系列顯微分光膜厚儀

產(chǎn)品簡介
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目:? 絕.對反射率測量? 多層膜解析? 光學(xué)常數(shù)分析(n:折射率,k:消光系數(shù))
產(chǎn)品分類
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OPTM 系列顯微分光膜厚儀
| 型號 | OPTM-A1 | OPTM-A2 | OPTM-A3 |
| 波長范圍 | 230 ~ 800 nm | 360 ~ 1100 nm | 900 ~ 1600 nm |
| 膜厚范圍 | 1nm ~ 35μm | 7nm ~ 49μm | 16nm ~ 92μm |
| 測定時間 | 1秒 / 1點 | ||
| 光斑大小 | 10μm (小約5μm) | ||
| 感光元件 | CCD | InGaAs | |
| 光源規(guī)格 | 氘燈+鹵素?zé)?/span> | 鹵素?zé)?/span> | |
| 電源規(guī)格 | AC100V±10V 750VA(自動樣品臺規(guī)格) | ||
| 尺寸 | 555(W) × 537(D) × 568(H) mm (自動樣品臺規(guī)格之主體 部分) | ||
| 重量 | |||
| 約 55kg(自動樣品臺規(guī)格之主體部分) |
公司郵箱: qgao@buybm.com
服務(wù)熱線: 021-61052039
公司地址: 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)五樓
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